GORE® PHASEFLEX®微波/射频测试电缆组件

对于需要精确、可重复性好的测试测量应用,戈尔提供优异的相位幅度稳定度的微波/射频测试组件, 在弯曲时仍然保持极佳的稳定性。戈尔组件结构坚固轻巧,不但性能可靠,还具有更长使用寿命,减少设备停工时间,从而降低实验室、生产和外场测试成本。

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资源中心

GORE® PHASEFLEX® Microwave / RF Test Assemblies

同轴和微波/射频电缆组件 同轴和微波/射频测试电缆

GORE® PHASEFLEX® 微波/射频测试电缆组件产品资料包含产品的典型应用、特点和优势、产品构造、技术参数和产品料号等信息。

Chinese

所有资源 GORE® PHASEFLEX®微波/射频测试电缆组件

概览

在当今竞争激烈的电子行业中,稳定性对使用微波/射频电缆组件的应用来说至关重要,以确保一致、可重复的测试结果及长期保持可靠的电气性能。因此,电缆组件必须经久耐用,可经受经常运动、弯折和面临各种环境状况的考验,同时须保持可靠的电气性能。事实上,近期的研究表明,由于在安装或使用过程中造成的损坏,全球超过75%的微波/射频电缆组件需要经常更换。

无论何时性能都持久可靠

GORE PHASEFLEX微波/射频测试组件是市场上唯一具有内铠装结构的柔性射频测试组件,在严苛的环境下电气性能保持一致,使用寿命长。我们的组件结构耐用,可抗压,抗扭、抗打结时,以防止因超过电缆的最小弯曲半径造成的损害。同时,我们的组件在确保提供精确且具有可重复性的测量的同时,可经受频繁的插拔,而且部分型号电缆在超过过10万多次弯折周期的后仍能够保持可靠性能。

因此,有什么理由要去选择每年必须更换几次的微波/射频组件呢?或者,你更希望在测试设备的使用寿命期间只需使用一个组件?GORE PHASEFLEX微波/射频测试电缆组件比业内常见的传统电缆组件更加可靠,更加持久——使用寿命是几年而不是几个月。

PHASEFLEX微波/射频测试电缆组件
PHASEFLEX微波/射频测试电缆组件

GORE PHASEFLEX微波/射频测试电缆组件提供无可比拟的精确、可重复的测试测量结果,经久耐用。

应用

GORE PHASEFLEX微波/射频测试电缆组件可在各种测试和测量应用中始终保持可靠的性能,包括:

GORE<sup>®</sup> PHASEFLEX<sup>®</sup>微波/射频测试电缆组件

图片经安捷伦科技有限公司同意使用(Agilent Technologies, Inc.)

  • 电波暗室
  • 天线测试场
  • 自动测试设备
  • 台式测试
  • 电磁兼容测试
  • 大批量射频器件的生产测试
  • 近场扫描仪
  • 便携式分析仪
  • 标量网络分析仪
  • 测试机架系统
  • 矢量网络分析仪 (VNA)
  • 无线通讯模块测试

如果您有任何疑问或有任何具体应用需求,敬请联系戈尔代表

特点和优点

GORE PHASEFLEX 微波/射频测试组件经过工程设计,具有许多特点,能够在严苛的环境下提供更持久的性能。这些特点包括:

  • 抗扭曲、抗挤压、抗打结
  • 耐磨
  • 防尘、防水
  • 耐腐蚀
  • 温度范围广
  • 连接器抗拉强度高

戈尔测试组件具有许多优点,可帮助制造商提高电气和机械性能,例如:

  • 频率到 110 GHz电气性能稳定,确保一致、可重复的测试测量结果
  • 耐压、耐扭、耐打结的坚固的结构确保更长使用寿命
  • 在弯折、温度变化时保持优异的相幅稳定性
  • 耐用、性能可靠,减少停机时间,提高产量
  • 提供多种专门优化电缆性能的连接器选择

如需了解戈尔测试组件特性和优点的更多信息,敬请联系戈尔代表

 

GORE® PHASEFLEX®微波/射频测试电缆组件的结构
GORE® PHASEFLEX®微波/射频测试电缆组件结构
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编织护套

关闭

外扎带

关闭

耐扭转编织层

关闭

抗压保护层

关闭

内护套

关闭

内编织物

关闭

电气屏蔽

关闭

ePTFE绝缘

关闭

中心导体

关闭

视频

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GORE® PHASEFLEX® 微波/射频测试组件被罗德与施瓦茨公司选中应用于R&S ZNBT20多端口矢量网络分析仪

发布 June 20, 2017

戈尔宣布,Rohde & Schwarz (罗德与施瓦茨)选中GORE® PHASEFLEX®微波/射频测试组件应用于新推出的R&S ZNBT20多端口矢量网络分析仪(VNA)。

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